多层瓷介电容机械应力引起失效模式及解决措施
时间:2023-03-31来源:佚名
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多层瓷介电容器(MLCC),具有体积小、单位体积容量大、稳定性高、没有极性便于安装等优点,在航空、航天、军事通讯、雷达等领域被广泛应用。上期我们介绍瓷介质电容器不能耐受瞬变的温度过应力(如:电装焊接温度过高、电容器焊接前没有预加热等)热应力失效及解决措施。这期将分析瓷介电容器不能耐受机械应力(如:环氧树脂的热胀冷缩应力,安装部位印制板变形应力或受到外来不明机械应力等)机械应力引起的失效及解决措施。
1、机械应力引起的失效 (1)安装前 (a)机械吸片使用不当 这类缺陷主要是由于真空吸拾头位置过低,在吸拾电容时直接打在了陶瓷电容器的上表面,裂纹基本只在元件的中心位置或附近出现,产品清面隐隐约约的圆环形或新月形的浅色带,见下图2。
这种裂缝很难被发现,通常都只在电容器表面而已,只有当我们做了DPA之后,才可能看到破损的细节图片。
(b)安装前产品碰撞或跌落在地 碰撞可能在产品的瓷体上形成微裂纹,通常肉眼很难发现,但已经降低了瓷体的机械强度。在安装过程中,受到热应力或机械应力,产品沿着原有的微裂纹开裂程度加剧,或在原有裂纹的基础上产生了新的裂纹。
解决措施: ★在贴片时,调整吸嘴的吸力,避免吸嘴接触电容;★ 跌落在地的产品不要使用;★ 对产品进行测试时,也要轻拿轻放,避免产品之间的互相碰撞;★安装好的印刷基板在运输和存放的过程中也尽量轻拿轻放。 (2)安装后 安装在电路板上的电容会受到多种压缩应力、拉伸应力,如下图5所示。
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