介电常数介质损耗测定仪——使用知识

一、概述：
LJD-C型 橡胶介电常数测试仪 作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内的160MHz.采用了多项*技术。
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至最低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
二、主要技术特性：
*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ
*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数
3．Q值测量范围：1～1023
4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
*5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
*6．电容直接测量范围：1pF～25nF
7．主电容调节范围： 17～240pF
8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%
9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz
10．合格指示预置功能范围：5～1000
11．环境温度：0℃～ 40℃；
12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：
数显式微杆，平板电容器：
极片尺寸： 38mm
极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距：25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
测微杆分辨率：0.001mm
测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm
*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm
14. 电感组LKI-1：
分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。

三、配置：
主机 一台
电感 九支
夹具 一套
液体杯 一套
随机文件一套

LJD系列介电常数及介质损耗测试系统使用方法

一 手动介电常数测试方法与步骤

测试前主机建议预热30分钟

把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上，锁止开关向上旋转。（使用完，请按OFF关闭微分尺，并且锁止开关向下旋转至水平位置）3、在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。

4、被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm)，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。（小于0.5mm的样品测试，请参考附录三，叠加测试法）

5、调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。

6、再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值最大值）上。

7、取出S916测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变小），此时调节S916测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值最大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.

8、计算被测样品的介电常数:

Σ＝D2 / D4

二 自动介电常数测试方法与步骤(需选配自动测试软件模块)

1. 自动介电常数测试时，基本步骤同手动一样，只是主机支持通过数据模块记录S916测试夹具的数据，并自动计算出介电常数。

2. 使用数据转换连接线,连接S916数据传输接口和介电常数测试主机背板上的四芯插座.（见下图）

3. 按主机键盘区“2”按键第一次，出现下图界面.

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4. 当S916测试夹具夹紧待测材料，调节主机的主调电容使主机谐振，此时第二次按主机键盘区“2”按键。此时主机将保留最终的D2数据，并显示下图界面

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5. 拿出被测材料，再次调节S916测试夹具的上下极片，直到主机再次谐振，最后再一次按下主机键盘区“2”按键，主机保存D4数据，并计算出介电常数的数值。显示下图界面，此时主机已经把计算出的介电常数e显示在显示屏上。

6. 按主机键盘区“LT”按键两次退出测试，结束测试。

三、 介质损耗测试方法与步骤

主机C0值的计算方式:

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其中C0

a) 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；

b) 将调谐电容器调到200P左右，令这个电容是C4，

c) 按下仪器面板的频率搜索键，使测试回路谐振，谐振时Q的读数为Q4(注：若频率搜索未能找到最高Q值谐振点，可以通过频率旋钮来微调频率来达到Q值最大值的谐振点；

d) 将测试夹具接在“Cx”两端，放入材料，上下极片夹紧材料后记住夹具显示值，然后拿出材料，调回到夹具的显示数值，调节主调电容，使测试电路重新谐振，此时可变电容器值为C3，Q值读数为Q3。(注：C3数值肯定比C4要小)

机构电容的有效电容为：Cz= C4－C3

分布电容为机构电容CZ和电感分布电容CL（参考电感的技术说明）的和

介质损耗系数/介质损耗正切值为