日本UNION DCM-40/60 用于微电子行业，半导体行业

产品简介

两面观察测量显微镜产品介绍

两面观察测量显微镜

品牌:日本UNION

型号：DCM-40/60

DCM-40/60是一款设计*的显微镜，可分别或同时观察物体的表面和底面图像，并对两图像进行比较，还可以通过测量装置测量两图像（表面和底面）的偏差。可选的物镜有五种，放大倍率从50X~100X。测量精度可达1μm。

DCM-40/60主要应用于微电子行业，特别是在半导体行业。产品上下面尺寸有偏移时就可以直接对比测量，减少其它间接测量方式的误差且不会损坏产品。例如：晶圆划片基准印字偏移，柔性线路板线路间距，陶瓷电容片切割对位和IC框架边缘质量等应用。

规格：

型号

DCM-40

DCM-60

物镜

5X, 10X, 20X ,40x, 100X

5X, 10X, 20X ,40x, 100X

工作台

50X50mm ~100X100mm

150X150mm