日本Union DZ2-IR红外观察测量 显微镜 半导体封装

DZ2-IR日本Union红外观察测量显微镜半导体封装

主题：日本Union红外观察测量显微镜

型号:DZ2-IR

品牌：日本UNION

应用于半导体各种封装内部结构的测量

特点：

1.650~1200nm波长光学系统从可见光到(jìn)红外光范围。

2.无级变倍放大倍率（1.5X~15X）或（5X~50X）。不需要更换物镜，同时具备高的工作距离。 3.配置Uni-Measure测量软件，进行大尺寸移动测量，或微观的小尺寸测量。

4.配备表面和透射的红外光照明，能很好应用于半导体各种封装内部结构的

观察，如BGA，CSP，COF和晶圆级封装等。