安拓森最新快充测试系统方案，为快速充电保驾护航
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一 前言 随着手机行业的不断发展，更大的屏幕，更快的处理器，都不断应用于实际。手机尺寸的不断变大，电池容量也在随之增加，电池容量的增加，意味着充电时间也随之增加，电池续航能力跟不上，于是快充技术也就应运而生，且在技术发展的同时不断更新，以高通快充技术为例，从2013到2017，已经历经了几代的技术革命; 二、快充协议 USB接口是电子产品最常用的接口之一，新一代USB Type-C的功能与前代相比有大幅的跃进，最高10Gbps的传输速率、电力传输效能更佳，消费者只须使用Type-C连接线即可实现充电、视频或数据传输，不必再大费周章地使用各种连接线。同时Type-C接口正反面形状相同，无一面都不会影响到充电和传输，解决了“USB永远插不准”的世界性难题。与此同时新兴起的PD快充吸取了目前快充的精华，重新整合成一套“大而全”的快充方案。USB-PD是基于USB Type-C的供电标准，最大功率可达100W. 三.快充测试解决方案 快充时代的到来，加快充方案的电子设备面世。也随着技术的不断更新，单一的针对性电子设备已经不能满足于快充的测试要求，而智能的测试系统却可以兼容目前所有的快充技术及协议。 3.1 测试系统简介 此快充测试系统，在原来基础增加行业快充电源的QC2.0、QC3.0、PD、MTK一体式全面测试。这套测量系统不仅可以高效、快捷的帮助用户完成测试功能，同时也为用户提高产品品质提供了有力保障。安拓森作为国内异军突起的测试测量厂商，将始终专注于测量，坚持自主创新，为用户提供更多创新的行业解决方案，真正体现客户价值.该系统是一个主要用于充电器或直流电源进行自动化测试的系统，具有自动化程度高、操作简单、界面友好、性能稳定、测试准确、速度较快等特点。 3.2快充测试系统测试项目 一、输入端特性测试： 1、输入电压测试(Input voltage test); 2、输入有效值电流测试(Input RMS current test); 3、输入功率测试(Input power test); 4、输入功率因数测试(Input power factor test); 二、输出端特性测试： 1、输出直流电压测试(Output DC voltage test); 2、输出直流电流测试(Output DC current test); 3、输出直流功率测试(Output DC power test); 4、电压纹波测试(Peak-peak noise test); 5、效率测试(Efficiency test); 6、平均效率测试(CEC test); 三、稳定度测试： 1、输入电源调整率测试(Input voltage regulation test); 2、负载调整率测试(Load regulation test); 3、综合调整率测试(Combine regulation test); 四、保护功能测试： 1、短路保护测试(Short circuit test); 2、过电流保护测试(Over current protection test); 五、特殊功能： 1、快充QC2.0/3.0/4.0，MTK,PD测试 2、D 、D-测试; 3、PASS、FAIL外接指示功能; 4、条形码生成或读取(Barcode scan)。 5、MES专属定制功能 3.2 快充测试原理 QC2.0主要是通过D D-输入对应电压，线长阻抗大的时候，会导致升电压失败。为此自主开发QC2.0测试快充协议板，内置阻抗匹配电路，通道全隔离电路，可解决此异常的发生。 QC3.0主要是通过D D-脉冲方式，一次200MV递增、递减，到所需测试电压，控制时环境干扰过大会导致递增、递减错误，还与行业中各个IC产商的微区别也会导致测试异常。 为此自主开发QC3.0测试快充协议板，内置抗干扰电路与通道隔离电路，兼容行业所有QC3.0的IC厂商协议，全面解决测试异常发生。 3.3 PD测试原理 PD快充主要是通过CC信号脚，触发切换输出电压，目前行业中各个IC产商的微区别会有测试方式区别，如OCP,短路后的复位电压不固定，激活PD协议时电压不同等。 为此经多次实验分析确认，研制PD全兼容测试快充协议板，内置抗干扰电路与通道隔离电路，兼容行业所有QC3.0，QC2.0的IC厂商协议，全面解决测试异常发生。 3.4 MTK协议 安拓森MTK标配赠送，兼容行业所有MTK协议且稳定。 3.5 D D-检测 D D-可快速检测出不良品，正极到D-，D-到D ，D 到负极各点之间的电路。 |
