从模块热设计角度出发,介绍各类低温升、高可靠性电源设计
时间:2022-03-13作者:佚名
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电源模块发热问题会严重危害模块的可靠性,使产品的失效率将呈指数规律增加,电源模块发热严重怎么办?本文从模块的热设计角度出发,为你介绍各类低温升、高可靠性的电源设计及应用解决方案。 高温对功率密度高的电源模块的可靠性影响极其大。高温会导致电解电容的寿命降低、变压器漆包线的绝缘特性降低、晶体管损坏、材料热老化、低熔点焊缝开裂、焊点脱落、器件之间的机械应力增大等现象。有统计资料表明,电子元件温度每升高2℃,可靠性下降10%。 一、关键器件的损耗 表1是开关电源关键器件的热损耗根源,了解器件发热原因,为散热设计提供理论基础,能快速定位设计方案。 表1主要元器件损耗根源 二、开关电源热设计 从表1了解关键发热器件和发热的原因后,可以从以下两方面入手: 1、从电路结构、器件上减少损耗:如采用更优的控制方式和技术、高频软开关技术、移相控制技术、同步整流技术等,另外就是选用低功耗的器件,减少发热器件的数目,加大加粗印制线的宽度,提高电源的效率; 方案选择优化热设计 |







