可靠性测试及失效分析技术工作坊公告

时间：2013年8月28日 星期三, 下午13:30-17:00

地点：佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心

工作坊摘要

LED的可靠性或寿命一般可以透过不同的可靠性测试作评估，一套完整的可靠性评估方案，除测试外，亦需要有完善的数据采集、数据分析及失效分析。这次工作坊分三部分：第一部份主要讨论不同可靠性测试方法及要注意的地方，亦会谈及不同数据采集的方法;第二部份是有关数据处理和分析的方法，了解不同统计模型特性及其应用方法;第三部份是失效分析的方法，透过详尽的失效分析和了解失效模式，可以找出对应的失效原因。这次工作坊会介绍一些常用的失效分析的方法，包括非破坏性和破坏性的方法。另外，亦会提及一些跟失效分析有关的设备的原理及应用。最后透过一些案例，了解整个失效分析的过程。

主讲人简介

卢智铨博士于2002年获得香港科技大学(Hong Kong University of Science and Technology, HKUST)机械工程系一级荣誉学士学位。随后于分别于2004年及2008年获得香港科技大学机械工程系硕士及博士学位。自2004年起在香港科技大学先进微系统封装中心(Center for Advanced Microsystems Packaging, CAMP)电子封装实验室工作(Electronic Packaging Laboratory, EPACK Lab)。现时,担任该实验室项目经理一职,负责技术培训和人员管理,亦会与工业界合作研发并替工业界作测试和分析。 现在亦是国际电机电子工程师学会电子组件、封装及制造技术学会香港分部副主席。卢博士主要的研究方向为倒焊芯片组装、晶圆级封装、芯片级封装、LED封装及测试、微系统封装,以及可靠性测试和分析。卢博士于2004年在国际电机电子工程师学会(IEEE)54th Electronic Components and Technology Conference (ECTC 2004)获得 “Best Poster Paper Award”,其后在2008年IEEE 9th VLSI Packaging Workshop in Japan (VPWJ2008) 获得 “Young Award”。

主办单位：佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心

协办单位：国家半导体照明工程研发及产业联盟(CSA)

支持媒体：OFweek半导体照明网 阿拉丁照明网 新世纪LED网

注意事项

1. 有意参加者需在8月27日前登录www.fsldctr.org在线注册。由于座位有限，报名采取先到先得原则。

2. 本次工作坊讲师主要以普通话作报告，但问答时可用英语/普通话/粤语。

3. 报名人员必须按照附件的报名回执要求填写，并盖上企业章。

工作坊费用：

1. 本中心会员免费(请登入www.fsldctr.org 成为中心会员)，CSA会员免费。

2. 其他人员￥50元/人。

3. 本次工作坊另外提供CETTIC职业培训证书选项，详情参阅下页。

CETTIC职业培训证书简介

【授证机构】